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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2025-11-18 瀏覽數(shù)量:
隨著新能源汽車、智能駕駛、車身電子、電機(jī)控制、電池管理系統(tǒng)(BMS)等應(yīng)用的高速增長(zhǎng),汽車電子產(chǎn)品對(duì)安全性、可靠性、一致性與可追溯性的要求不斷提升。
汽車電子環(huán)境復(fù)雜,溫度、濕度、振動(dòng)、電磁干擾等因素均遠(yuǎn)高于消費(fèi)電子場(chǎng)景,因此進(jìn)入車規(guī)領(lǐng)域的元器件必須滿足以下要求:
- 滿足車企/一級(jí)供應(yīng)商的PPAP、APQP要求
- 滿足AEC-Q系列可靠性標(biāo)準(zhǔn)(AEC-Q100/101/102/103/104/200)
- 確保在-40℃~150℃等苛刻環(huán)境下長(zhǎng)期穩(wěn)定工作
- 實(shí)現(xiàn)零缺陷率目標(biāo)(Zero Defect)
- 獲得第三方可追溯測(cè)試報(bào)告,為車廠準(zhǔn)入審核提供依據(jù)
因此,越來(lái)越多的芯片廠商、電子元件企業(yè)、汽車產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈企業(yè)需要尋找具備CNAS資質(zhì)、覆蓋全系列AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)的第三方車規(guī)級(jí)電子元器件測(cè)試機(jī)構(gòu)。

車規(guī)元器件覆蓋汽車域控制器、電驅(qū)、BMS、OBC、VCU、ADAS、車燈系統(tǒng)等全部關(guān)鍵模塊。常見車規(guī)產(chǎn)品包括:
1. 車規(guī)級(jí)集成電路(AEC-Q100)
- MCU / MPU
- PMIC 電源管理芯片
- 運(yùn)放/比較器
- 車載傳感類模擬IC
- 通信芯片(CAN、LIN、FlexRay、以太網(wǎng) PHY)
- 驅(qū)動(dòng)芯片 / LED Driver
2. 車規(guī)級(jí)分立器件(AEC-Q101)
- MOSFET / IGBT
- 二極管、肖特基二極管、穩(wěn)壓二極管
- TVS 瞬態(tài)抑制二極管
- 整流橋、晶體管等
3. 車規(guī)級(jí)光電半導(dǎo)體(AEC-Q102)
- LED(車燈、車內(nèi)照明)
- 激光器(Lidar)
- 光敏三極管
- 光電耦合器等
4. 車規(guī)級(jí)傳感器(AEC-Q103)
- MEMS壓力傳感器
- MEMS麥克風(fēng)
- 加速度/陀螺儀傳感器等
5. 車規(guī)級(jí)多芯片模塊(AEC-Q104)
- 電源模塊(DC/DC、AC/DC)
- LED模組
- MCM功率組件
- MEMS模塊等
6. 車規(guī)級(jí)被動(dòng)元件(AEC-Q200)
- 陶瓷電容、鉭/鈮電容、薄膜電容、鋁電解電容
- 電阻、熱敏電阻、壓敏電阻
- 電感、變壓器
- 晶振
- EMI濾波器、保險(xiǎn)絲等
AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)由美國(guó)汽車電子委員會(huì)制定,是全球汽車電子供應(yīng)鏈普遍認(rèn)可的準(zhǔn)入標(biāo)準(zhǔn)。
各標(biāo)準(zhǔn)定義如下:
- AEC-Q100:集成電路(IC)應(yīng)力測(cè)試規(guī)范
- AEC-Q101:分立半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試
- AEC-Q102:光電半導(dǎo)體器件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
- AEC-Q103:汽車傳感器(MEMS)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
- AEC-Q104:多芯片模塊 MCM 可靠性標(biāo)準(zhǔn)
- AEC-Q200:被動(dòng)元件可靠性標(biāo)準(zhǔn)
所有AEC-Q測(cè)試均基于“失效機(jī)理驅(qū)動(dòng)(Failure Mechanism Based)”原則,要求進(jìn)行高溫、濕熱、沖擊、振動(dòng)、電氣、ESD 等全面測(cè)試,并要求0失效。

以下為典型測(cè)試項(xiàng)(不同類別測(cè)試項(xiàng)目不同,以AEC-Q原文為基礎(chǔ)):
1. 環(huán)境應(yīng)力類測(cè)試
- 高溫存儲(chǔ)(HTS)
- 低溫存儲(chǔ)
- 高溫工作壽命(HTOL)
- 溫度循環(huán)
- 熱沖擊
- 高溫濕熱(85℃/85%RH)
- 電氣偏置濕熱(HAST / BHAST)
2. 機(jī)械應(yīng)力類測(cè)試
- 振動(dòng)測(cè)試(隨機(jī)/正弦)
- 跌落、沖擊
- 端子強(qiáng)度
- 引腳拉力
3. 電氣特性類測(cè)試
- ESD靜電放電測(cè)試(HBM / CDM)
- Latch-up閂鎖測(cè)試
- 電氣參數(shù)掃描
- 開短路測(cè)試等
4. 光電器件專用測(cè)試(AEC-Q102)
- 光通量衰減
- 結(jié)溫控制(Tj)
- 氣體腐蝕
- 光學(xué)性能變化
5. 被動(dòng)元件專用測(cè)試(AEC-Q200)
- 可焊性
- 可燃性
- 端子強(qiáng)度
- ESR、ESL、容量漂移
- 抗沖擊/抗振動(dòng)
- 溫度特性測(cè)試
第三方機(jī)構(gòu)通常會(huì)根據(jù)產(chǎn)品使用條件制定PC(Performance Class)等級(jí)、測(cè)試量綱、試驗(yàn)條件等。
1. 需求溝通與資料評(píng)估
- 元件型號(hào)、封裝、應(yīng)用條件
- 車企/一級(jí)供應(yīng)商要求
- AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)匹配
2. 定義測(cè)試計(jì)劃(Test Plan)
- WBS(測(cè)試分解結(jié)構(gòu))設(shè)計(jì)
- 樣品數(shù)量確認(rèn)
- 失效判定標(biāo)準(zhǔn)
- 測(cè)試時(shí)長(zhǎng)與周期安排
3. 簽訂合同與寄送樣品
4. 進(jìn)行可靠性與電氣測(cè)試
5. 數(shù)據(jù)分析與失效分析(如需要)
6. 出具CNAS認(rèn)可的測(cè)試報(bào)告
7. 客戶審核/車企審核資料包提交

作為專業(yè)第三方車規(guī)級(jí)電子元器件測(cè)試機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備:
- AEC-Q100 / 101 / 102 / 103 / 104 / 200系列CNAS檢測(cè)資質(zhì)
- 完整的汽車電子可靠性與環(huán)境應(yīng)力測(cè)試能力
- 經(jīng)驗(yàn)豐富的車規(guī)認(rèn)證工程師團(tuán)隊(duì)
- 可提供 IC、分立、光電、傳感器、被動(dòng)件全類別測(cè)試
- 可依據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用條件定義專屬測(cè)試計(jì)劃(Test Plan)
- 提供測(cè)試報(bào)告、失效分析(FA)、認(rèn)證咨詢等全流程服務(wù)
- 支持車企 PPAP、VDA、APQP 審核資料準(zhǔn)備
服務(wù)對(duì)象包括芯片廠商、車載模組廠、Tier1、Tier2、車燈廠、BMS/VCU/OBC 廠商等。
1. AEC-Q測(cè)試與車規(guī)認(rèn)證是同一回事嗎?
不是。AEC-Q是可靠性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn),不是“認(rèn)證”,但車規(guī)產(chǎn)品必須滿足AEC-Q測(cè)試要求。
2. AEC-Q測(cè)試需要多少樣品?
不同標(biāo)準(zhǔn)不同,如:
- AEC-Q100 HTOL:通常每組77pcs
- AEC-Q200:不同項(xiàng)目數(shù)量不同
測(cè)試機(jī)構(gòu)會(huì)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)與應(yīng)用協(xié)助定義。
3. AEC-Q 報(bào)告可以用于車廠審核嗎?
可以。CNAS認(rèn)可報(bào)告可作為PPAP資料的重要組成部分。
4. 是否可以協(xié)助制定測(cè)試計(jì)劃?
可以,我們可根據(jù)使用環(huán)境、車企要求制定完整的Test Plan。

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